이 애플리케이션이 요구하는 것
분석 장비는 해당 범위의 최저 수준에서 측정할 수 있는 항목에 따라 판단됩니다. 미광, 자가형광 및 코팅 핀홀은 모두 실제 신호와 인공물을 구별할 수 없는 바닥을 설정하며, 아무리 많은 신호 평균을 사용해도 광학 경로가 이미 파괴한 정보를 복구할 수 없습니다. 이것이 과학 광학이 피크 전송보다는 거부 및 배경을 중심으로 지정되는 이유입니다.
장비가 분광계인 경우 스펙트럼 정밀도와 파장 규모의 정확도가 가장 중요합니다. 형광 현미경의 경우 요구 사항은 종종 수십 나노미터 이내의 훨씬 약한 방출을 통과시키면서 여기 밴드를 차단하는 것으로 이동합니다.
권장사양
| 구성 요소 | 일반적인 사양 | 왜? |
|---|---|---|
| 분광계 필터 | 가파른 전환과 깊은 차단 기능을 갖춘 에지 및 대역 통과 필터 | 순서 중복 및 미광이 감지기에 도달하는 것을 방지합니다. |
| 형광 필터 세트 | 일치된 세트로 구성된 여기 필터, 이색성 필터, 방출 필터 | 세트는 세 개의 독립적인 부분이 아닌 함께 작동해야 합니다. |
| 석영 샘플 창 | 자가형광이 낮은 용융 실리카, 양면 AR 코팅 | 약한 신호 측정 시 배경을 낮게 유지합니다. |
| 참조 및 교정 플레이트 | 평탄도와 투과도가 검증된 연마된 기판 | 장비에 대한 안정적인 기준선 제공 |
우리가 설계하는 실패 모드
핀홀과 코팅 결함은 예상치 못한 배경의 가장 일반적인 원인입니다. 차단 필터의 단일 핀홀은 불균형한 양의 여기광을 검출기에 직접 전달합니다. 주의 깊은 취급 및 청소 프로토콜과 결합된 조밀한 차단 사양으로 이 문제를 해결하며, 응용 분야가 중요한 경우 핀홀을 특별히 검사합니다.
기판의 자가형광은 형광 작업의 두 번째 문제입니다. 일반 유리는 신호가 약할 때 문제가 될 정도로 형광을 발산하므로 샘플에 가장 가까운 광학 요소에 용융 실리카가 사용됩니다. 실제로 석영이 필요한 요소와 그렇지 않은 요소에 대한 조언은 자동 충전이 아닌 디자인 검토의 일부입니다.
도달해야 하는 검출 한계를 알려주십시오. 공칭 파장보다 큰 숫자에 따라 필터 세트를 지정하는 방법이 결정됩니다.
자주 묻는 질문
완전한 형광 필터 세트를 제공합니까?
예. 여기 필터, 이색성 필터, 방출 필터가 형광단용으로 함께 설계되어 세트가 시스템으로 작동합니다.
배경은 얼마나 낮을 수 있나요?
차단 사양과 기판에 따라 다릅니다. 검출 한계를 보내주시면 이를 지원하는 세트를 지정해 드립니다.