Semi-Conducteurs et Microélectronique

Semiconductor process and metrology tools need ultra-flat wafers, low-defect substrates and stable coatings. We deliver glass and quartz components with semiconductor-grade cleanliness and tolerances.

Produits d'application

Équipements et systèmes typiques de ce domaine :

Lithography & inspection tools

Illumination and imaging optics.

Wafer metrology & review

Transmission windows and reference flats.

Process equipment (dep & etch)

Viewports and insulating substrates.

Packaging & test systems

Carrier glass and alignment targets.

MEMS & sensor fabrication

Wafer-level substrates and capping glass.

Composants optiques que nous fournissons

Fabriqués ou traités selon votre plan — cliquez pour voir la gamme :

Fused silica and sapphire windows for semiconductor process equipment

Ce que demande cette application

Les équipements de traitement et de métrologie des semi-conducteurs imposent des exigences plus proches d’un consommable de salle blanche que d’un composant optique. La propreté des particules, le dégazage, la stabilité dimensionnelle et la planéité sont souvent des préoccupations qui préoccupent l'ingénieur en outillage ; la courbe de transmission peut déjà être fixée par la longueur d'onde du processus et doit simplement être maintenue de manière répétée d'un lot à l'autre.

La transmission UV est l’autre exigence déterminante. À mesure que les longueurs d'onde du processus s'enfoncent plus profondément dans l'ultraviolet, le choix du substrat se rétrécit considérablement : le borosilicate ordinaire cesse de transmettre là où le processus doit fonctionner, et seules la silice fondue ou le saphir de qualité UV feront l'affaire. La planéité est importante en métrologie car la surface de référence définit la mesure, pas seulement l'image.

Spécifications que nous recommandons

ComposantSpécification typiquePourquoi
Fenêtres d'affichage et de processusSilice fondue de qualité UV, faible OH, tolérance d'épaisseur serréeTransmet la longueur d'onde du processus sans pertes de solarisation ni d'absorption
Plaquettes de support et de supportVerre borosilicaté ou d'affichage, TTV inférieur à 3 µmLa planéité contrôle l'uniformité du processus au-dessus
Plaques de référence de métrologieSilice fondue polie, planéité jusqu'à λ/10, vérifiée par interférométrieLa surface de référence définit la précision de l'instrument
Optique d'inspectionRevêtements AR à large bande sur verre et quartzTransmission élevée pour l'examen des défauts sans ajouter d'images fantômes

Modes de défaillance contre lesquels nous concevons

La contamination par les particules arrivant avec l'optique est la cause la plus courante de rejet d'une pièce dans ce secteur, c'est pourquoi nous nettoyons et emballons selon un protocole plutôt que comme une étape finale. Le voile de surface et les traces d'eau apparaissent immédiatement lors de l'inspection sur fond noir et sont évités par un rinçage et un séchage contrôlés plutôt que par un polissage supplémentaire.

La stabilité mécanique est la deuxième préoccupation. Lorsqu'une fenêtre est serrée dans un outil et soumise à un cycle thermique, une faible variation d'épaisseur ou de planéité se traduit directement par une variation optique. Il est moins coûteux de maintenir fermement la tolérance d'épaisseur au début que de la compenser dans l'outil.

Si votre inspection à réception comprend des limites de comptage de particules ou de dégazage, envoyez les critères avec la demande. L'emballage et le nettoyage sont spécifiés plutôt que supposés.

Questions fréquemment posées

Pouvez-vous fournir un matériau de qualité UV pour les fenêtres à UV profond ?

Oui – la silice fondue de qualité UV à faible teneur en OH est la voie standard, avec le saphir où la dureté ou la transmission IR moyenne comptent également.

La planéité au niveau de la tranche est-elle réalisable sur les pièces revêtues ?

Le revêtement ajoute une petite contribution au chiffre. Nous mesurons le front d'onde ou la planéité après le dépôt, qui est le nombre qui régit les performances de l'outil.

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